Abbas Mohtashami

Person

's-Gravenhage, NL

People

Patents Grantslast 30 patents

Information Patent Grant
Cantilever, ultrasound acoustic microscopy device comprising the ca...
- Patent number 11,927,564
- Issue date Mar 12, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Maarten Hubertus Van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method, atomic force microscopy system and computer program product
- Patent number 11,289,367
- Issue date Mar 29, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Violeta Navarro Paredes
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Atomic force microscopy device, method and lithographic system
- Patent number 10,976,345
- Issue date Apr 13, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic...
- Patent number 10,942,200
- Issue date Mar 9, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING

Patents Applicationslast 30 patents

Information Patent Application
METROLOGY DEVICE AND METHOD
- Publication number 20240410962
- Publication date Dec 12, 2024
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Abbas MOHTASHAMI
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD AND SYSTEM FOR IMAGING STRUCTURES BELOW THE SURFACE OF A SAMPLE
- Publication number 20220205953
- Publication date Jun 30, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Daniele PIRAS
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
CANTILEVER, ULTRASOUND ACOUSTIC MICROSCOPY DEVICE COMPRISING THE CA...
- Publication number 20220091069
- Publication date Mar 24, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Maarten Hubertus VAN ES
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD, ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT
- Publication number 20200227311
- Publication date Jul 16, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Violeta Navarro Paredes
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
HETERODYNE ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC...
- Publication number 20200124635
- Publication date Apr 23, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC SYSTEM
- Publication number 20190369139
- Publication date Dec 5, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING

Abbas Mohtashami

Person

Patents Grantslast 30 patents

Cantilever, ultrasound acoustic microscopy device comprising the ca...

Method, atomic force microscopy system and computer program product

Atomic force microscopy device, method and lithographic system

Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic...

Patents Applicationslast 30 patents

METROLOGY DEVICE AND METHOD

METHOD AND SYSTEM FOR IMAGING STRUCTURES BELOW THE SURFACE OF A SAMPLE

CANTILEVER, ULTRASOUND ACOUSTIC MICROSCOPY DEVICE COMPRISING THE CA...

METHOD, ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT

HETERODYNE ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC...

ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC SYSTEM