Albert Dekker

Person

's-Gravenhage, NL

People

Patents Grantslast 30 patents

Information Patent Grant
Probe chip, scan head, scanning probe microscopy device and use of...
- Patent number 12,117,467
- Issue date Oct 15, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscop...
- Patent number 11,698,389
- Issue date Jul 11, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of positioning a carrier on a flat surface, and assembly of...
- Patent number 11,650,224
- Issue date May 16, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- F16 - ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINT...
Information Patent Grant
High-precision linear actuator
- Patent number 11,458,581
- Issue date Oct 4, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Albert Dekker
- B23 - MACHINE TOOLS METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
Information Patent Grant
Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostru...
- Patent number 11,320,454
- Issue date May 3, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Z-position motion stage for use in a scanning probe microscopy syst...
- Patent number 11,035,879
- Issue date Jun 15, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Albert Dekker
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
High-precision scanning device
- Patent number 10,634,698
- Issue date Apr 28, 2020
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Albert Dekker
- H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
Information Patent Grant
Method of positioning a carrier on a flat surface, and assembly of...
- Patent number 10,495,667
- Issue date Dec 3, 2019
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING

Patents Applicationslast 30 patents

Information Patent Application
PROBE, METHOD OF MANUFACTURING A PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOP...
- Publication number 20230160924
- Publication date May 25, 2023
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
PROBE CHIP, SCAN HEAD, SCANNING PROBE MICROSCOPY DEVICE AND USE OF...
- Publication number 20210278436
- Publication date Sep 9, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
Z-POSITION MOTION STAGE FOR USE IN A SCANNING PROBE MICROSCOPY SYST...
- Publication number 20200233013
- Publication date Jul 23, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Albert Dekker
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
HIGH-PRECISION LINEAR ACTUATOR
- Publication number 20200189057
- Publication date Jun 18, 2020
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuwetenschappelijk onderzoek TNO
- Albert Dekker
- B23 - MACHINE TOOLS METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
Information Patent Application
SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM FOR AND METHOD OF MAPPING NANOSTRU...
- Publication number 20200116754
- Publication date Apr 16, 2020
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF POSITIONING A CARRIER ON A FLAT SURFACE, AND ASSEMBLY OF...
- Publication number 20200081034
- Publication date Mar 12, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- F16 - ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINT...
Information Patent Application
HIGH-PRECISION SCANNING DEVICE
- Publication number 20190353679
- Publication date Nov 21, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Albert DEKKER
- H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
Information Patent Application
SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM, AND METHOD FOR MOUNTING AND DEMOU...
- Publication number 20190317127
- Publication date Oct 17, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed SADEGHIAN MARNANI
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF POSITIONING A CARRIER ON A FLAT SURFACE, AND ASSEMBLY OF...
- Publication number 20170146564
- Publication date May 25, 2017
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING

Albert Dekker

Person

Patents Grantslast 30 patents

Probe chip, scan head, scanning probe microscopy device and use of...

Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscop...

Method of positioning a carrier on a flat surface, and assembly of...

High-precision linear actuator

Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostru...

Z-position motion stage for use in a scanning probe microscopy syst...

High-precision scanning device

Method of positioning a carrier on a flat surface, and assembly of...

Patents Applicationslast 30 patents

PROBE, METHOD OF MANUFACTURING A PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOP...

PROBE CHIP, SCAN HEAD, SCANNING PROBE MICROSCOPY DEVICE AND USE OF...

Z-POSITION MOTION STAGE FOR USE IN A SCANNING PROBE MICROSCOPY SYST...

HIGH-PRECISION LINEAR ACTUATOR

SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM FOR AND METHOD OF MAPPING NANOSTRU...

METHOD OF POSITIONING A CARRIER ON A FLAT SURFACE, AND ASSEMBLY OF...

HIGH-PRECISION SCANNING DEVICE

SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM, AND METHOD FOR MOUNTING AND DEMOU...

METHOD OF POSITIONING A CARRIER ON A FLAT SURFACE, AND ASSEMBLY OF...