Herne, DE
Information
Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Erik Verheyen
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Dirk Weiler
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Dirk Weiler
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Erik VERHEYEN
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Dirk WEILER
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Dirk WEILER
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Holger Vogt
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Hoc Khiem Trieu
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Olaf Such
H04 - ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
