Jena, DE
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Patent Grant
Friedrich Schiller Universität Jena
Jan Sperrhake
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Sven Schröder
G21 - NUCLEAR PHYSICS NUCLEAR ENGINEERING
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Patent Grant
Friedrich-Schiller-Universitaet Jena
Stefan Heist
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Stefan Heist
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Christoph Munkelt
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung E.V.
Martin Palme
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Gunther Notni
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der Angewandten Forschung E.V.
Peter Kuehmstedt
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Martin Landmann
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
FRIEDRICH-SCHILLER-UNIVERSITÄT JENA
Jan SPERRHAKE
A61 - MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE HYGIENE
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Sven Schröder
G21 - NUCLEAR PHYSICS NUCLEAR ENGINEERING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderug der angewandten Forschung e.V.
Alexander von Finck
G02 - OPTICS
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Stefan Heist
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung de angewandten Forschung e.V.
Stefan Heist
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Christoph Munkelt
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
SUNYX SURFACE NANOTECHNOLOGIES GMBH
Karsten Reihs
C03 - GLASS MINERAL OR SLAG WOOL
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Patent Application
Gunther Notni
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Karsten Reihs
C03 - GLASS MINERAL OR SLAG WOOL
