Munich, DE
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Patent Grant
Max-Planck-Fesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ferenc Krausz
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ioachim Pupeza
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Alexander Apolonskiy
C07 - ORGANIC CHEMISTRY
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Alexander Apolonskiy
G02 - OPTICS
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ioachim Pupeza
G02 - OPTICS
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ioachim Pupeza
G02 - OPTICS
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Patent Grant
Max-Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Jan Kaster
H05 - ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ernst FILL
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Alexander WEIGEL
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ferenc KRAUSZ
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ioachim PUPEZA
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ferenc KRAUSZ
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Alexander APOLONSKIY
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.
Ioachim PUPEZA
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ioachim Pupeza
G02 - OPTICS
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Patent Application
LUDWIG-MAXIMILIANS-UNIVERSITAET MUENCHEN
Jan Kaster
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
Max-Planck-Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V.
Ferenc Krausz
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
