Jan Jacobus Benjamin BIEMOND

Follow

Person

Barendrecht, NL

People

Patents Grantslast 30 patents

Information Patent Grant
Probe chip, scan head, scanning probe microscopy device and use of...
- Patent number 12,117,467
- Issue date Oct 15, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscop...
- Patent number 11,698,389
- Issue date Jul 11, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Scanning probe microscope and a method for operating thereof
- Patent number 11,402,404
- Issue date Aug 2, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Jan Jacobus Benjamin Biemond
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
System and method of performing scanning probe microscopy on a subs...
- Patent number 11,320,457
- Issue date May 3, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING

Patents Applicationslast 30 patents

Information Patent Application
PROBE, METHOD OF MANUFACTURING A PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOP...
- Publication number 20230160924
- Publication date May 25, 2023
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
SYSTEM AND METHOD OF PERFORMING SCANNING PROBE MICROSCOPY ON A SUBS...
- Publication number 20210318353
- Publication date Oct 14, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND A METHOD FOR OPERATING THEREOF
- Publication number 20210311090
- Publication date Oct 7, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Jan Jacobus Benjamin BIEMOND
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
PROBE CHIP, SCAN HEAD, SCANNING PROBE MICROSCOPY DEVICE AND USE OF...
- Publication number 20210278436
- Publication date Sep 9, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING