Erlangen, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Stefan Moedl
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Matthias Voelker
H04 - ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Matthias Oberst
G11 - INFORMATION STORAGE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Harald Neubauer
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Johann Hauer
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Temic Semiconductor GmbH
Jens Egerer
H04 - ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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Patent Application
Matthias VOELKER
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Matthias OBERST
G11 - INFORMATION STORAGE
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Stefan Moedl
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Harald Neubauer
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
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Patent Application
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Johann Hauer
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
