Erfurt, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Jörg Heber
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung E.V.
Uwe Jan Schmidt
G02 - OPTICS
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Patent Application
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Jorg HEBER
G02 - OPTICS
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Jan-Uwe Schmidt
G02 - OPTICS
