Membership
Tour
Register
Log in
Kodai HATAKEYAMA
Follow
Person
Pijnacker, NL
People
Overview
Industries
Organizations
People
Information
Impact
Patents Grants
last 30 patents
Information
Patent Grant
Ultrasound sub-surface probe microscopy device and corresponding me...
Patent number
12,130,258
Issue date
Oct 29, 2024
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Maarten Hubertus Van Es
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Grant
Heterodyne scanning probe microscopy method and scanning probe micr...
Patent number
11,635,448
Issue date
Apr 25, 2023
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Sri Ram Shankar Rajadurai
G01 - MEASURING TESTING
Patents Applications
last 30 patents
Information
Patent Application
METROLOGY DEVICE AND METHOD
Publication number
20240410962
Publication date
Dec 12, 2024
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Abbas MOHTASHAMI
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
ULTRASOUND SUB-SURFACE PROBE MICROSCOPY DEVICE AND CORRESPONDING ME...
Publication number
20220236228
Publication date
Jul 28, 2022
Maarten Hubertus VAN ES
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
HETERODYNE SCANNING PROBE MICROSCOPY METHOD AND SCANNING PROBE MICR...
Publication number
20220229088
Publication date
Jul 21, 2022
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Sri Ram Shankar RAJADURAI
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
METHOD AND SYSTEM FOR IMAGING STRUCTURES BELOW THE SURFACE OF A SAMPLE
Publication number
20220205953
Publication date
Jun 30, 2022
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Daniele PIRAS
G01 - MEASURING TESTING