Maarten Hubertus VAN ES

Person

's-Gravenhage, NL

People

Patents Grantslast 30 patents

Information Patent Grant
Method of and system for performing subsurface imaging using vibrat...
- Patent number 12,169,187
- Issue date Dec 17, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Daniele Piras
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Ultrasound sub-surface probe microscopy device and corresponding me...
- Patent number 12,130,258
- Issue date Oct 29, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Maarten Hubertus Van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Heterodyne scanning probe microscopy method and system
- Patent number 11,940,416
- Issue date Mar 26, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Cantilever, ultrasound acoustic microscopy device comprising the ca...
- Patent number 11,927,564
- Issue date Mar 12, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Maarten Hubertus Van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Atomic force microscopy cantilever, system and method
- Patent number 11,644,481
- Issue date May 9, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-nataurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Maarten Hubertus Van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Heterodyne scanning probe microscopy method and scanning probe micr...
- Patent number 11,635,448
- Issue date Apr 25, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Sri Ram Shankar Rajadurai
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Frequency tracking for subsurface atomic force microscopy
- Patent number 11,402,405
- Issue date Aug 2, 2022
- Nederlandse Oganisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Paul Louis Maria Joseph Van Neer
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of and atomic force microscopy system for performing subsurf...
- Patent number 11,268,935
- Issue date Mar 8, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Daniele Piras
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of performing atomic force microscopy with an ultrasound tra...
- Patent number 11,067,597
- Issue date Jul 20, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Martinus Cornelius Johannes Maria Van Riel
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Atomic force microscopy system, method for mapping one or more subs...
- Patent number 11,035,878
- Issue date Jun 15, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Laurent Fillinger
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Atomic force microscopy device, method and lithographic system
- Patent number 10,976,345
- Issue date Apr 13, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of and system for performing detection on or characterizatio...
- Patent number 10,948,458
- Issue date Mar 16, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic...
- Patent number 10,942,200
- Issue date Mar 9, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of determining an overlay error, method for manufacturing a...
- Patent number 10,935,568
- Issue date Mar 2, 2021
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Maarten Hubertus van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of and system for determining an overlay or alignment error...
- Patent number 10,859,925
- Issue date Dec 8, 2020
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Violeta Navarro Paredes
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Method of and system for performing defect detection on or characte...
- Patent number 10,775,405
- Issue date Sep 15, 2020
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
Information Patent Grant
Method of tuning parameter settings for performing acoustic scannin...
- Patent number 10,746,702
- Issue date Aug 18, 2020
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Scanning probe microscope with a reduced Q-factor
- Patent number 9,897,626
- Issue date Feb 20, 2018
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Femke Chantal Tabak
- G01 - MEASURING TESTING

Patents Applicationslast 30 patents

Information Patent Application
METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM FOR PERFORMING ACOUSTIC SCANNIN...
- Publication number 20240219421
- Publication date Jul 4, 2024
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Daniele PIRAS
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
ULTRASOUND SUB-SURFACE PROBE MICROSCOPY DEVICE AND CORRESPONDING ME...
- Publication number 20220236228
- Publication date Jul 28, 2022
- Maarten Hubertus VAN ES
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
HETERODYNE SCANNING PROBE MICROSCOPY METHOD AND SCANNING PROBE MICR...
- Publication number 20220229088
- Publication date Jul 21, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Sri Ram Shankar RAJADURAI
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD AND SYSTEM FOR IMAGING STRUCTURES BELOW THE SURFACE OF A SAMPLE
- Publication number 20220205953
- Publication date Jun 30, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Daniele PIRAS
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
CANTILEVER, ULTRASOUND ACOUSTIC MICROSCOPY DEVICE COMPRISING THE CA...
- Publication number 20220091069
- Publication date Mar 24, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Maarten Hubertus VAN ES
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
LITHOGRAPHIC PATTERNING METHOD AND SYSTEM THEREFORE
- Publication number 20220057720
- Publication date Feb 24, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Diederik Jan MAAS
- G03 - PHOTOGRAPHY CINEMATOGRAPHY ELECTROGRAPHY HOLOGRAPHY
Information Patent Application
ATOMIC FORCE MICROSCOPY CANTILEVER, SYSTEM AND METHOD
- Publication number 20220026464
- Publication date Jan 27, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Maarten Hubertus van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
FREQUENCY TRACKING FOR SUBSURFACE ATOMIC FORCE MICROSCOPY
- Publication number 20210389345
- Publication date Dec 16, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Paul Louis Maria Joseph VAN NEER
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD AND SYSTEM FOR AT LEAST SUBSURFACE CHARACTERIZATION OF A SAMPLE
- Publication number 20210003608
- Publication date Jan 7, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed SADEGHIAN MARNANI
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF PERFORMING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
- Publication number 20200348334
- Publication date Nov 5, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Martinus Cornelius Johannes Maria VAN RIEL
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM, METHOD FOR MAPPING ONE OR MORE SUBS...
- Publication number 20200309816
- Publication date Oct 1, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Laurent FILLINGER
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
ATOMIC FORCE MICROSCOPY CANTILEVER, SYSTEM AND METHOD
- Publication number 20200249255
- Publication date Aug 6, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Maarten Hubertus van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
HETERODYNE ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC...
- Publication number 20200124635
- Publication date Apr 23, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING SUBSURFACE IMAGING USING VIBRAT...
- Publication number 20200124571
- Publication date Apr 23, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Daniele Piras
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM FOR PERFORMING SUBSURF...
- Publication number 20200057028
- Publication date Feb 20, 2020
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Daniele Piras
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DETECTION ON OR CHARACTERIZATIO...
- Publication number 20190383774
- Publication date Dec 19, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OVERLAY OR ALIGNMENT ERROR...
- Publication number 20190378769
- Publication date Dec 12, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Violeta Navarro Paredes
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC SYSTEM
- Publication number 20190369139
- Publication date Dec 5, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Abbas Mohtashami
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF DETERMINING AN OVERLAY ERROR, METHOD FOR MANUFACTURING A...
- Publication number 20190310284
- Publication date Oct 10, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Maarten Hubertus van Es
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DEFECT DETECTION ON OR CHARACTE...
- Publication number 20190227097
- Publication date Jul 25, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
HETERODYNE SCANNING PROBE MICROSCOPY METHOD AND SYSTEM
- Publication number 20190204276
- Publication date Jul 4, 2019
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
METHOD OF TUNING PARAMETER SETTINGS FOR PERFORMING ACOUSTIC SCANNIN...
- Publication number 20190154636
- Publication date May 23, 2019
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetep -pelijk Onderzoe TNO
- Hamed Sadeghian Marnani
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH A REDUCED Q-FACTOR
- Publication number 20170307655
- Publication date Oct 26, 2017
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Femke Chantal TABAK
- G01 - MEASURING TESTING

Maarten Hubertus VAN ES

Person

Patents Grantslast 30 patents

Method of and system for performing subsurface imaging using vibrat...

Ultrasound sub-surface probe microscopy device and corresponding me...

Heterodyne scanning probe microscopy method and system

Cantilever, ultrasound acoustic microscopy device comprising the ca...

Atomic force microscopy cantilever, system and method

Heterodyne scanning probe microscopy method and scanning probe micr...

Frequency tracking for subsurface atomic force microscopy

Method of and atomic force microscopy system for performing subsurf...

Method of performing atomic force microscopy with an ultrasound tra...

Atomic force microscopy system, method for mapping one or more subs...

Atomic force microscopy device, method and lithographic system

Method of and system for performing detection on or characterizatio...

Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic...

Method of determining an overlay error, method for manufacturing a...

Method of and system for determining an overlay or alignment error...

Method of and system for performing defect detection on or characte...

Method of tuning parameter settings for performing acoustic scannin...

Scanning probe microscope with a reduced Q-factor

Patents Applicationslast 30 patents

METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM FOR PERFORMING ACOUSTIC SCANNIN...

ULTRASOUND SUB-SURFACE PROBE MICROSCOPY DEVICE AND CORRESPONDING ME...

HETERODYNE SCANNING PROBE MICROSCOPY METHOD AND SCANNING PROBE MICR...

METHOD AND SYSTEM FOR IMAGING STRUCTURES BELOW THE SURFACE OF A SAMPLE

CANTILEVER, ULTRASOUND ACOUSTIC MICROSCOPY DEVICE COMPRISING THE CA...

LITHOGRAPHIC PATTERNING METHOD AND SYSTEM THEREFORE

ATOMIC FORCE MICROSCOPY CANTILEVER, SYSTEM AND METHOD

FREQUENCY TRACKING FOR SUBSURFACE ATOMIC FORCE MICROSCOPY

METHOD AND SYSTEM FOR AT LEAST SUBSURFACE CHARACTERIZATION OF A SAMPLE

METHOD OF PERFORMING ATOMIC FORCE MICROSCOPY

ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM, METHOD FOR MAPPING ONE OR MORE SUBS...

ATOMIC FORCE MICROSCOPY CANTILEVER, SYSTEM AND METHOD

HETERODYNE ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC...

METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING SUBSURFACE IMAGING USING VIBRAT...

METHOD OF AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEM FOR PERFORMING SUBSURF...

METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DETECTION ON OR CHARACTERIZATIO...

METHOD OF AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OVERLAY OR ALIGNMENT ERROR...

ATOMIC FORCE MICROSCOPY DEVICE, METHOD AND LITHOGRAPHIC SYSTEM

METHOD OF DETERMINING AN OVERLAY ERROR, METHOD FOR MANUFACTURING A...

METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DEFECT DETECTION ON OR CHARACTE...

HETERODYNE SCANNING PROBE MICROSCOPY METHOD AND SYSTEM

METHOD OF TUNING PARAMETER SETTINGS FOR PERFORMING ACOUSTIC SCANNIN...

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH A REDUCED Q-FACTOR