Erlangen, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Philip Beran
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Markus Stahl-Offergeld
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Michael Hackner
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Michael Hackner
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Philip BERAN
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e.V.
Markus STAHL-OFFERGELD
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Michael Hackner
H03 - BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Michael Hackner
G01 - MEASURING TESTING
