Membership
Tour
Register
Log in
Martinus Cornelius Johannes Maria van Riel
Follow
Person
's-Gravenzande, NL
People
Overview
Industries
Organizations
People
Information
Impact
Patents Grants
last 30 patents
Information
Patent Grant
Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostru...
Patent number
11,320,454
Issue date
May 3, 2022
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Hamed Sadeghian Marnani
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Grant
Method of performing atomic force microscopy with an ultrasound tra...
Patent number
11,067,597
Issue date
Jul 20, 2021
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Martinus Cornelius Johannes Maria Van Riel
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Grant
Z-position motion stage for use in a scanning probe microscopy syst...
Patent number
11,035,879
Issue date
Jun 15, 2021
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Albert Dekker
G01 - MEASURING TESTING
Patents Applications
last 30 patents
Information
Patent Application
FREQUENCY TRACKING FOR SUBSURFACE ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Publication number
20210389345
Publication date
Dec 16, 2021
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Paul Louis Maria Joseph VAN NEER
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
METHOD OF PERFORMING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Publication number
20200348334
Publication date
Nov 5, 2020
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Martinus Cornelius Johannes Maria VAN RIEL
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
Z-POSITION MOTION STAGE FOR USE IN A SCANNING PROBE MICROSCOPY SYST...
Publication number
20200233013
Publication date
Jul 23, 2020
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Albert Dekker
G01 - MEASURING TESTING
Information
Patent Application
SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM FOR AND METHOD OF MAPPING NANOSTRU...
Publication number
20200116754
Publication date
Apr 16, 2020
Hamed Sadeghian Marnani
G01 - MEASURING TESTING