Erlangen, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Philip Beran
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Philip Beran
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung E.V.
Philip Beran
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung E.V.
Philip Beran
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderug der angewandten Forschung e.V.
Daniel CICHON
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Philip BERAN
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Philip BERAN
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Philip BERAN
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Philip BERAN
G01 - MEASURING TESTING
