Roelof Willem HERFST

Follow

Person

Capelle aan den IJssel, NL

People

Patents Grantslast 30 patents

Information Patent Grant
Probe chip, scan head, scanning probe microscopy device and use of...
- Patent number 12,117,467
- Issue date Oct 15, 2024
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Probe cassette for holding a probe in storage for use in a scanning...
- Patent number 11,709,181
- Issue date Jul 25, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscop...
- Patent number 11,698,389
- Issue date Jul 11, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
Scanning probe microscope, scan head and method
- Patent number 11,592,460
- Issue date Feb 28, 2023
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Grant
System and method of performing scanning probe microscopy on a subs...
- Patent number 11,320,457
- Issue date May 3, 2022
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Roelof Willem Herfst
- G01 - MEASURING TESTING

Patents Applicationslast 30 patents

Information Patent Application
PROBE, METHOD OF MANUFACTURING A PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOP...
- Publication number 20230160924
- Publication date May 25, 2023
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
PROBE CASSETTE FOR HOLDING A PROBE IN STORAGE FOR USE IN A SCANNING...
- Publication number 20220390486
- Publication date Dec 8, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCAN HEAD AND METHOD
- Publication number 20220057430
- Publication date Feb 24, 2022
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
SYSTEM AND METHOD OF PERFORMING SCANNING PROBE MICROSCOPY ON A SUBS...
- Publication number 20210318353
- Publication date Oct 14, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING
Information Patent Application
PROBE CHIP, SCAN HEAD, SCANNING PROBE MICROSCOPY DEVICE AND USE OF...
- Publication number 20210278436
- Publication date Sep 9, 2021
- NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
- Roelof Willem HERFST
- G01 - MEASURING TESTING