Sjoerd Oostrom

Person

  • Alphen aan den Rijn, NL

Patents Grantslast 30 patents

  • Information Patent Grant

    Optical inspection device and method

    • Patent number 11,536,648
    • Issue date Dec 27, 2022
    • Nederlandse Organisatie voortoegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
    • Bertram Adriaan Van Der Zwan
    • G01 - MEASURING TESTING
  • Information Patent Grant

    Removing particulate contaminants from the backside of a wafer or r...

    • Patent number 10,262,853
    • Issue date Apr 16, 2019
    • Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
    • Sjoerd Oostrom
    • H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
  • Information Patent Grant

    Optoelectric devices

    • Patent number 8,373,343
    • Issue date Feb 12, 2013
    • Nederlandse Organisatie voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
    • Jasper Joost Michels
    • H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS

Patents Applicationslast 30 patents

  • Information Patent Application

    OPTICAL INSPECTION DEVICE AND METHOD

    • Publication number 20210270727
    • Publication date Sep 2, 2021
    • NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
    • Bertram Adriaan VAN DER ZWAN
    • G01 - MEASURING TESTING
  • Information Patent Application

    REMOVING PARTICULATE CONTAMINANTS FROM THE BACKSIDE OF A WAFER OR R...

    • Publication number 20170194134
    • Publication date Jul 6, 2017
    • NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST- NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
    • Sjoerd OOSTROM
    • B08 - CLEANING
  • Information Patent Application

    OPTOELECTRIC DEVICES

    • Publication number 20100079062
    • Publication date Apr 1, 2010
    • Nederiandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelikj onderzoek TNO
    • Jasper Joost Michels
    • H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS