Berlin, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung E.V.
Björn Globisch
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung E.V.
Roman Dietz
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung E.V.
Roman Dietz
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung E.V.
Thorsten Göbel
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung E.V.
Karl-Otto Velthaus
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Björn GLOBISCH
H01 - BASIC ELECTRIC ELEMENTS
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Roman DIETZ
C30 - CRYSTAL GROWTH
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Thorsten GÖBEL
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angewandten Forschung e.V.
Karl-Otto VELTHAUS
G02 - OPTICS
