Nurnberg, DE
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Wladimir Tschekalinskij
G02 - OPTICS
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Wladimir Tschekalinskij
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Juergen Ernst
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Stephan Junger
B82 - NANO-TECHNOLOGY
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Patent Grant
Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V.
Wladimir Tschekalinskij
B82 - NANO-TECHNOLOGY
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Patent Application
Thorsten GRAUNKE
G01 - MEASURING TESTING
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Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Wladimir TSCHEKALINSKIJ
G02 - OPTICS
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Wladimir TSCHEKALINSKIJ
G01 - MEASURING TESTING
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Patent Application
Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Norbert Weber
H04 - ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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Fraunhofer-Gesellschaft
Juergen ERNST
G01 - MEASURING TESTING
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Fraunhofer-Gesellschaft zur foerderung der Angewandten Forschung e.V.
Stephan Junger
B82 - NANO-TECHNOLOGY
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Wladimir Tschekalinskij
G02 - OPTICS
